芯片測(cè)試開發(fā)團(tuán)隊(duì)核心成員擁有10年以上在英特爾和英飛凌工作經(jīng)歷,在數(shù)字SoC芯片、高速IO、汽車電子、模擬、電源管理芯片測(cè)試及量產(chǎn)支持領(lǐng)域積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),可為客戶提供測(cè)試程序開發(fā)、測(cè)試硬件開發(fā)、量產(chǎn)支持、機(jī)時(shí)租用等靈活的服務(wù)方式。公司的SoC芯片測(cè)試實(shí)驗(yàn)室擁有包括Advantest 93k, Teradyne J750, UF3000 Prober 等業(yè)界主流測(cè)試平臺(tái),可提供晶圓及顆粒級(jí)芯片測(cè)試。
服務(wù)內(nèi)容
• 可幫助客戶指定測(cè)試計(jì)劃(Test Concept),包括SCAN、MBIST、BSD和IP測(cè)試
• 開發(fā)適用于Advantest 93000和Teradyne J750/Ultraflex機(jī)臺(tái)的測(cè)試程序
– 晶圓級(jí)CP test program
– 顆粒級(jí)FT test program
– 適用于Memory測(cè)試機(jī)臺(tái)的DRAM(SIP)測(cè)試程序
• 測(cè)試硬件開發(fā):探針卡(Prober card);FT測(cè)試版(loadboard)
• Characterization程序開發(fā)、測(cè)試數(shù)據(jù)收集和分析
• 測(cè)試向量轉(zhuǎn)換 (test pattern conversion)
• 工程樣片測(cè)試及調(diào)試。ATE與實(shí)驗(yàn)室測(cè)試(Bench Test)相關(guān)性分析(correlation)
• 幫助客戶single -site向Multi-site test及低成本測(cè)試平臺(tái)轉(zhuǎn)換
• 量產(chǎn)測(cè)試程序的發(fā)布(Subcon Test Release)及優(yōu)化,包括提高良率(Yield)、縮短測(cè)試時(shí)間(TTR),量產(chǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)分析(PRE)
我們的能力
團(tuán)隊(duì)能力
• 團(tuán)隊(duì)由測(cè)試工程師(TE)和產(chǎn)品可靠性工程(PRE)工程師組成。核心團(tuán)隊(duì)成員擁有10年以上在英特爾和英飛凌芯片測(cè)試領(lǐng)域開發(fā)經(jīng)驗(yàn)
• 在數(shù)字SoC、高速IO、汽車電子、模擬、電源管理芯片測(cè)試開發(fā)方面有豐富經(jīng)驗(yàn)
• 有豐富的量產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),可幫助客戶做量產(chǎn)程序發(fā)布及產(chǎn)品良率提升
項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)
• 10余款數(shù)字基帶SoC芯片測(cè)試開發(fā)及量產(chǎn)
– SCAN、MBIST、BSCAN、Fuse、Power、Analog、Function Performance
– 高速IO測(cè)試:DDR、USB、PCIE、MIPI、DigRF等。
– 愛德萬(wàn) T5833/5585機(jī)臺(tái)上的DRAM(SIP)測(cè)試開發(fā)
– PVT Characterization。
• 5余款電源管理芯片(PMIC)測(cè)試開發(fā)及量產(chǎn)
– 包括以下模塊:DC-DC, LDO, OTP, GPADC, USB Charge Pump, Speed Monitor, VIBRA driver, FLL, RTC Clock, Voltage comparators, etc.
• 5余款汽車電子MCU產(chǎn)品測(cè)試開發(fā)及量產(chǎn)
– 主要測(cè)試項(xiàng)包括:SCAN, Embedded SRAM/ROM/Flash test, analog module including PLL, OSC, ADC/DAC, LDO, Bandgap, HV stress, etc.
– Automotive product qualification and characterization.
SoC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
基礎(chǔ)設(shè)施
• 523平米實(shí)驗(yàn)室空間。配有冷凍水、壓縮空氣、UPS、防靜電地板
ISO認(rèn)證
• ISO 9001:2015 & ISO 14001:2015 by SGS
測(cè)試設(shè)備
• 3 Advantest 93k testers (PS1600/400 + PS9G)
• 1 Teradyne J750 tester (512 channel, 16M)
• 1 Advantest T5833-ES memory tester
• 2 UF3000 probers
• 2 Microscopes: Keyence VK-X150/VR3200
• 2 TP04310 Thermo-stream for hot & cold test
靈活的外包服務(wù)形式
我們可與客戶一起訂制最適合客戶需求的外包服務(wù)方案, 包括:
• 一站式交鑰匙服務(wù)(turn-key solution)
• 使用西安紫光國(guó)芯人力及實(shí)驗(yàn)室資源完成客戶指定工作(work package)
• 西安紫光國(guó)芯工程師遠(yuǎn)程登錄到客戶系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)室工作
其他服務(wù)
• 西安紫光國(guó)芯實(shí)驗(yàn)室可對(duì)客戶開放,收取機(jī)時(shí)費(fèi)用,并支持遠(yuǎn)程登錄
• 可為客戶提供測(cè)試培訓(xùn)服務(wù)
• 可幫助客戶委外完成晶圓制造、封裝和測(cè)試等生產(chǎn)管理服務(wù)
我們的服務(wù)優(yōu)勢(shì)
• 代客戶開發(fā)的所有軟件和硬件所有權(quán)歸客戶所有
• 可根據(jù)客戶項(xiàng)目需求靈活配置、增加資源
• 可提供DFT配套服務(wù)